用于α能譜測(cè)量的Si帶電粒子輻射探測(cè)器

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簡(jiǎn)要描述：能譜學(xué)中見的應(yīng)用領(lǐng)域是放射化學(xué)、保健物理和環(huán)境樣品的篩查

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α能譜學(xué)中見的應(yīng)用領(lǐng)域是放射化學(xué)、保健物理和環(huán)境樣品的篩查。這些應(yīng)用的硅輻射探測(cè)器是耗盡深度≥100微米的ULTRA輻射探測(cè)器和具有超低背景的ULTRA-AS輻射探測(cè)器。

此外，許多設(shè)施繼續(xù)使用具有低背景又不透光的加固（R系列）面壘型輻射探測(cè)器。“SEE-NO-ALPHA”選件可提供保證的分辨率規(guī)格，并且未暴露于α源可防止反散射污染。

*所有分辨率測(cè)量均在21±1°C下執(zhí)行和保證。

**用5.486-MeV天然α粒子測(cè)量。

† ULTRA系列探測(cè)器采用離子注入二氧化硅鈍化技術(shù)制造?？蔀樘厥庥唵翁峁┰试S在200°C下烘烤的版本。

	ULTRA†	ULTRA AS†
主要應(yīng)用	高分辨率、高效率的α和β能譜測(cè)量	超低本底的高效α能譜測(cè)量
主要特點(diǎn)/優(yōu)點(diǎn)	使用超薄接觸級(jí)，提供能量分辨率通過特設(shè)間距實(shí)現(xiàn)高效率采用表面鈍化技術(shù)保證器件穩(wěn)定性超長(zhǎng)壽命的鍍金防護(hù) 高品質(zhì)和可靠性	使用超薄接觸級(jí)，提供能量分辨率通過特設(shè)間距實(shí)現(xiàn)高效率采用表面鈍化技術(shù)保證器件穩(wěn)定性超長(zhǎng)壽命的鍍金防護(hù) 高品質(zhì)和可靠性
起始材料	Si	Si
有效面積范圍 (mm²)	25-3000	300–1200
有效厚度范圍 (µm)	100-500	100
保證工作溫度范圍*	+50°C 至 –30°C	+50°C 至 –30°C
二極管結(jié)構(gòu)	注入硼 - N型Si作為部分耗盡注入	注入硼 - N型Si作為部分耗盡注入
名義當(dāng)量窗口的截止能量**	入射 500 Å Si	入射 500 Å Si

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